JIS C5003-1974 电子元器件失效率的通用试验程序

作者:标准资料网时间:2024-05-15 18:55:43 浏览:9687 来源:标准资料网

【英文标准名称】:Generaltestprocedureoffailurerateforelectroniccomponents
【原文标准名称】:电子元器件失效率的通用试验程序
【标准号】:JISC5003-1974
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:1974-07-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonElectronics
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:失效;缺陷与故障;电气元件;尺;可靠度;电子设备及元件;试验
【英文主题词】:reliability;testing;failure(qualitycontrol);rules(instruments);defects
【摘要】:この規格は,本質的に同一設計で連続的に製造され,確立した品質管理によって生産される(以下,部品という。)であって,原則として期待される寿命期間中,一定の故障率を合理的に仮定できる部品について適用し.計数1回抜取検査方式によって,部品の故陣率水準の初期判定.維持,拡張の原則,測定間隔,試料数,試験時間,得られた結果の気理などの手順について規定する。
【中国标准分类号】:L04
【国际标准分类号】:31_020
【页数】:13P;A4
【正文语种】:日语

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